薄膜平整度测量仪

 箔材、隔离膜来料张力均匀性检测，并通过对薄膜材料的波浪边、塌边幅度进行测量，帮助客户了解薄膜来料张力是否一致。

平整度测量原理

设备测量模块由一个激光位移传感器组成的，通过一定张力拉伸铜箔/铝箔/隔离膜等基材后，激光位移传感器测量基材波浪面的位置，从而计算出被测薄膜张力不均时的一个位置差。如图:位置差C=B-A

光透过型激光传感器测量原理

注: 此测量组件为双模半自动薄膜平整度测量仪选配，部分设备不含此光透过型激光传感器。

利用CCD光透过型激光传感器进行测厚，激光发射器发射一束线激光穿过被测物由 CCD 受光组件接受后，当被测物在发射器和接收器之间时，接收器上会形成阴影。通过检测亮到暗以及暗到亮的转变，精确测量被测物的位置。