激光测厚仪的测量模式简介

激光测厚仪使用进口超高速高精度CMOS激光位移传感器，固定在C型架端部进行非接触对射式测量。

在生产过程中，大理石C型架带动激光探头来回扫描，扫描过程中不断采集膜片厚度数据,采样率为50kHz。每次扫描可采集数万组数据，经过算法分析滤除电磁干扰及厚度异常数据（如涂布间隙的箔材、胶带或其他超薄超厚数据），然后分成若干分区显示。同时通过EWMA算法和MA算法计算出膜片的横向与纵向厚度趋势，以线性图或柱状图的形式显示出来。还可以显示出膜片整体厚度的3D图像，并把扫描的厚度数据会保存成CSV表格。

在扫描过程中，每若干周期会扫描校准片进行一次自校准（自校准的频率可调，一般扫描8趟或更多自校准一次）,保证设备长期稳定运行。